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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司


經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)廠(chǎng)家

商鋪產(chǎn)品:103條

所在地區(qū):四川成都市

聯(lián)系人:羅林 (經(jīng)理)

  • 電子元器件高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 電子元器件高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng),本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB ...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Tester

    詳細(xì)摘要: 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Tester,高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案沖擊試驗(yàn)箱

    詳細(xì)摘要: 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案沖擊試驗(yàn)箱 ,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    詳細(xì)摘要: 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì)...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 導(dǎo)通電阻測(cè)試立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 導(dǎo)通電阻測(cè)試立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) ,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-06-12 在線(xiàn)留言

  • 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)

    詳細(xì)摘要: 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng),高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-05-19 在線(xiàn)留言

  • 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    詳細(xì)摘要: 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-05-19 在線(xiàn)留言

  • 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system

    詳細(xì)摘要: 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system,高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-05-19 在線(xiàn)留言

  • 冷熱沖擊箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    詳細(xì)摘要: 冷熱沖擊箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-05-19 在線(xiàn)留言

  • zonglen導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案

    詳細(xì)摘要: zonglen導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...

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  • Small Burn-in Tester芯片老化測(cè)試

    詳細(xì)摘要: Small Burn-in Tester芯片老化測(cè)試,高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低...

    產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-05-19 在線(xiàn)留言

  • 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案 冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    詳細(xì)摘要: 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案冷熱沖擊試驗(yàn)箱,本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求,克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...

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